變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀1 型號(hào)：MHY-20948

變溫霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)儀1是開(kāi)展半導(dǎo)體研究的重要方法。本機(jī)利用計(jì)算機(jī)的數(shù)據(jù)采集和處理在80K-400K溫度范圍內(nèi)對(duì)霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測(cè)量，行半導(dǎo)體導(dǎo)電機(jī)制及散射機(jī)制的研究，并可確定半導(dǎo)體的些基本參數(shù)，如導(dǎo)電類(lèi)型、載子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。         

主要標(biāo)
1．電磁鐵          0-300mT連續(xù)可調(diào)
2. 勵(lì)磁電源       0-5A連續(xù)可調(diào)  可自動(dòng)換向       穩(wěn)定性﹤±0.1%
3. 數(shù)字斯拉計(jì)              0-2000mT       三位半數(shù)字顯示   分辨率0.001
4. 恒源輸出       1mA       穩(wěn)定性±0.1%
5. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)霍爾電壓測(cè)量zui小分辨率1uV
6. 溫度變化測(cè)量范圍           80-400K
7. 整套儀器由電磁鐵系統(tǒng)、電源控制系統(tǒng)機(jī)箱、測(cè)量系統(tǒng)主機(jī)、恒溫器四分組成
8. 探頭樣品采用單晶鍺片

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