便攜式電阻測定儀/便攜式電阻率測試儀  型號：MHY-19821

MHY-19821便攜式電阻測定儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
  本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規(guī)定。
  它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
  為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω#8226cm標準樣片的測量瓿差不過±，在此范圍內(nèi)達到家標準機的水平。
2、 主要標
（1）測量范圍：
可測量  電阻率：0.01～199.9Ω#8226cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
       當被測材料電阻率≥200Ω#8226cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒源：
     輸出電：DC  0.1mA～10mA分兩檔
     10mA量程：0.1～1mA  連續(xù)可調(diào)
     10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)
     恒度：各檔均優(yōu)于±0.1
（3） 直數(shù)字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準確度：0.2（±2個字）
（4） 供電電源：
AC：220V   ±10     50/60HZ    率8W
（5） 使用環(huán)境：
相對濕度≤80
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×100×深240（mm）